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Suche nach: Autor / Beteiligte = Leyk, Andreas und Sammlung = ULB Düsseldorf

Entwicklung eines Hochfrequenz-Rasterkraftmikroskop-Testsystems für die Untersuchung von Hochfrequenzbauelementen und -schaltungen
Leyk, Andreas
Als Ms. gedr., Düsseldorf : VDI-Verl., 1998